Introduction à l'analyse probabiliste des risques industriels

95,00EUR

Catégories: TECHNIQUES ET SCIENCES APPLIQUÉES / Sciences et techniques industrielles [auto].

L'analyse probabiliste des risques technologiques et industriels est maintenant bien acceptée par les scientifiques et les autorités réglementaires. Cette analyse a été utilisée dans le domaine de la conception, de l'exploitation et de la maint...

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L'analyse probabiliste des risques technologiques et industriels est maintenant bien acceptée par les scientifiques et les autorités réglementaires. Cette analyse a été utilisée dans le domaine de la conception, de l'exploitation et de la maintenance des installations industrielles comme les installations à risques Seveso (chimie, pétrochimie, armement, transport), ou dans les domaines de haute technologie tels le spatial et le nucléaire où la réglementation impose justement l'élaboration d'un rapport de sûreté dès la conception et un suivi des résultats pendant toute la durée d'exploitation de l'installation. Cet ouvrage présente très simplement les différentes démarches de l'analyse des risques industriels, leur intérêt, leurs limites, leurs points communs et leur complémentarité, en partant d'un événement indésirable aléatoire ou, ce qui est plus complexe, d'un événement dépendant du temps. Les parades possibles dans ce dernier cas sont alors optimisées de façon probabiliste en fonction de différents critères d'intérêt. La principale ambition de ce livre est d'être abordable au néophyte en statistique, comme au spécialiste en ce domaine : il part du plus simple pour aller vers le plus compliqué. Il démontre de façon détaillée chacun des sujets abordés et les agrémente systématiquement d'exemples. Des applications industrielles concrètes illustrent enfin l'utilisation pratique des méthodes proposées. Ce livre s'adresse aux concepteurs, exploitants, universitaires et étudiants concernés par l'analyse probabiliste, le retour d'expérience ou l'expertise.

Disponibilité: Disponible
Format: PDF | 368 Pages
Date de publication: 2009-02-16
Éditeur: Tec & Doc
Langue: Français

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